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  • SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS
    SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS
    SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS用于需要同時獲取運動角度和長度信息的測量任務。該干涉儀的測量原理基于 SP 5000 NG 測量設備。兩個測量激光束使用同一頻率的共用激光器的光。兩個測量光束之間的間距經過高精度校準。測量光束之間的平行度至關重要。
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  • 表面增強拉曼散射SERS襯底/基底
    表面增強拉曼散射SERS襯底/基底
    昊量光電新推出用于超靈敏分子檢測用的表面增強拉曼散射SERS襯底/基底SERStrate ，實現低至 pm濃度的超靈敏分子檢測。能夠對從生命科學到軍事應用的各種分子進行痕量檢測。大多數器件制造技術涉及聚合物掩膜沉積（某種形式的光刻）或復雜的化學，這大大增加了器件制造成本。
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  • 447nm/671nm/1342nm 納秒脈沖固體激光器
    447nm/671nm/1342nm 納秒脈沖固體激光器
    447nm/671nm/1342nm 納秒脈沖固體激光器，IDOL 系列產生特殊的1342nm 波長及其倍頻（671nm）、三倍頻（447nm），其中1342nm 特別適合硅材料處理如隱形劃片、集成電路修剪，而671nm、447nm則在顯示平板修補領域有廣泛應用。
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  • 213/224 深紫外納秒激光器（IMPRESS 系列）
    213/224 深紫外納秒激光器（IMPRESS 系列）
    213/224 深紫外納秒激光器（IMPRESS 系列），可用于FBG 刻蝕、鉆石及藍寶石打標加工等應用，213nm 波長及TEM00 模式使它可以用于小于微米的直寫加工。
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  • 193nmDUV深紫外單縱模固體激光器
    193nmDUV深紫外單縱模固體激光器
    193nmDUV深紫外單縱模固體激光器，光譜帶寬接近其理論傅立葉極限。該193nm激光器的中心波長可在185和194 nm之間的范圍內定制，訂購時可配置為固定波長。
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  • VFI 光纖端面干涉儀
    VFI 光纖端面干涉儀
    VFI 光纖端面干涉儀可測量大多數標準和特種光纖，包括保偏光纖和空芯光纖。VFI 光纖端面干涉儀在研究、生產和質量保證領域已得到反復驗證。
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  • 單周期超短脈沖測量儀（d-cycle）
    單周期超短脈沖測量儀（d-cycle）
    單周期超短脈沖測量儀（d-cycle）是實現快速且精確測量超短脈沖的優先方案,尤其是針對苛刻的超短脈沖光源，如超寬帶光譜和單周期（single-cycle）的脈沖,也是目前可測量shortest pulse 的商業化測量儀器。d-cycle靈活且獨立的設計架構能夠測量各種超短脈沖光源，比如寬帶振蕩器,放大器
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  • 高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測量儀
    高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測量儀
    高分辨率納米粒度和Zeta電位二合一測量儀獨特亮點在于可選配用于外部原位測量的非接觸式光纖探頭，實現對定制容器、反應器內部或預灌封注射器等場景的直接無損監測，避免了分批處理，集成了粒度、Zeta 電位和遠程測量這“三合一解決方案”。
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  • FP標準具
    FP標準具
    昊量光電代理的FP標準具旨在根據用戶的需求設計蕞符合客戶需求的產品，您只需提供簡單的參數要求，就可以預先獲得工程師設計的標準具設計方案進行確認，所有的標準具都被設計安裝在一個彈性單元內，可以提供蕞大程度的保護。
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  • 單發超短脈沖測量儀（d-shot）
    單發超短脈沖測量儀（d-shot）
    d-shot 是基于色散掃描技術（D-scan）開發的一款超短脈沖測量儀。d-shot 適用于寬光譜超短激光的測量,支持重頻single shot至MHz。使用方便,將光束耦合到 d-shot 只需幾分鐘時間,能夠進行實時、流暢的測量。單發超短脈沖測量儀（d-shot）
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  • 光熱測量系統（光學弱吸收）
    光熱測量系統（光學弱吸收）
    光熱測量系統（光學弱吸收）主要用途是對不同光學元件（如鍍膜、基底、晶體、界面等）的吸收特性進行表征。該裝置采用泵浦-探測方式，基于熱透鏡效應，吸收測試在“泵浦”激光的波長下進行。為提高靈敏度，泵浦光經斬波調制，以實現對被測樣品的周期性加熱。探測光束感知被吸收的泵浦光所引起的加熱效應。
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  • 雙頻激光干涉儀
    雙頻激光干涉儀
    雙頻激光干涉儀HPI-3D是市場上的高性能激光干涉儀之一。作為雙頻外差系統，它的測量精度和分辨率為用戶提供了大量新的選擇。非常容易使用，它既可以應用于研究實驗室，也可以用于機器幾何測量。精確的機器校準對于提供高質量的產品至關重要。使用我們的系統，您可以快速、輕松地進行精確的校準。基本配置能夠進行線性位移、振動、速度和定位的測量。
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